[实用新型]表面贴装集成电路引脚共面性测试平台有效
| 申请号： | 201520746196.9 | 申请日： | 2015-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN205002736U | 公开（公告）日： | 2016-01-27 |
| 发明（设计）人： | 杨城;张吉;刘俊峰;张勇;马清桃;潘凌宇;王伯淳 | 申请（专利权）人： | 湖北航天技术研究院计量测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 徐祥生 |
| 地址： | 432000*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及表面贴装集成电路引脚共面性测试平台，包括基座和设置在基座上的背光源，其特征是基座上沿背光源外侧还设置有正方形筒状的参考基准，背光源上设置有高透光玻璃工件座，高透光玻璃工件座的上表面与参考基准的上端面位于同一水平面，在基座上参考基准外侧四周分别设置有高精度光学玻璃反光镜，高精度光学玻璃反光镜为上底大于下底的梯形，高精度光学玻璃反光镜与基座上平面之间的夹角为45°，高精度光学玻璃反光镜的镜面朝内。采用本实用新型，可以降低人工成本并且无需使用标准块标定参考基准平面而直接测试SMIC引脚共面性。本实用新型结构简单、使用方便、精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 表面 集成电路 引脚 共面性 测试 平台 | ||
【主权项】：
表面贴装集成电路引脚共面性测试平台，包括基座(1)和设置在基座(1)上的背光源(2)，其特征在于：基座(1)上沿背光源(2)外侧还设置有正方形筒状的参考基准(3)，背光源(2)上设置有高透光玻璃工件座(4)，高透光玻璃工件座(4)的上表面与参考基准(3)的上端面位于同一水平面，在基座(1)上参考基准(3)外侧四周分别设置有高精度光学玻璃反光镜(5)，高精度光学玻璃反光镜(5)为上底大于下底的梯形，高精度光学玻璃反光镜(5)与基座(1)上平面之间的夹角为45°，高精度光学玻璃反光镜(5)的镜面朝内。
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