[实用新型]一种半导体制冷片的制冷量测试装置有效
| 申请号： | 201520760146.6 | 申请日： | 2015-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN205138681U | 公开（公告）日： | 2016-04-06 |
| 发明（设计）人： | 陈天顺 | 申请（专利权）人： | 鹏南电子科技（厦门）有限公司 |
| 主分类号： | G01K17/00 | 分类号： | G01K17/00 |
| 代理公司： | 厦门市精诚新创知识产权代理有限公司 35218 | 代理人： | 何家富 |
| 地址： | 361000 福建省厦门市火炬*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及测试装置领域，特别地涉及一种半导体制冷片的制冷量测试装置。本实用新型公开了一种半导体制冷片的制冷量测试装置，包括加热台和制冷模块，所述加热台的加热面与制冷模块的制冷面滑动地相向设置，所述加热台的加热面上设置有第一温度检测模块，所述制冷模块的制冷面设置有第二温度检测模块，所述加热台和制冷模块的输入端接控制模块的输出端。本实用新型可以较为精确地测试半导体制冷片在不同冷热面温度下的实际制冷量，为半导体制冷提供了实测依据，且装置结构简单，成本较低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 制冷 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种半导体制冷片的制冷量测试装置，其特征在于：包括加热台和制冷模块，所述加热台的加热面与制冷模块的制冷面滑动地相向设置，所述加热台的加热面上设置有第一温度检测模块，所述制冷模块的制冷面设置有第二温度检测模块，所述加热台和制冷模块的输入端接控制模块的输出端。
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