[实用新型]芯片测试机的监控装置有效
| 申请号： | 201520947951.X | 申请日： | 2015-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN205506009U | 公开（公告）日： | 2016-08-24 |
| 发明（设计）人： | 潘子升;宋斌俊;魏建中 | 申请（专利权）人： | 杭州士兰微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00;G01R31/01 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 刘锋;柳兴坤 |
| 地址： | 310012*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 公开了一种芯片测试机的监控装置，所述芯片测试机的监控装置包括：位移检测模块，用于获得所述芯片测试机的机械臂的位置坐标；主处理器模块，接收所述芯片测试机的机械臂的位置坐标，并且在所述芯片测试机的机械臂的位置坐标不在预定范围内时，生成报警信息；以及无线传输模块，将所述报警信息发送到上位机。所述监控装置能够及时发现机械臂的运转异常提高芯片测试机的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 监控 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片测试机的监控装置，其特征在于，包括：位移检测模块，用于获得所述芯片测试机的机械臂的位置坐标；主处理器模块，接收所述芯片测试机的机械臂的位置坐标，并且在所述芯片测试机的机械臂的位置坐标不在预定范围内时，生成报警信息；以及无线传输模块，将所述报警信息发送到上位机；其中，所述主处理器模块包括接口电路，所述主处理器模块通过所述接口电路接收所述芯片测试机的机械臂的位置坐标。
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