[实用新型]一种计量芯片校验仪及计量信号产生装置有效
| 申请号： | 201520951217.0 | 申请日： | 2015-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN205120918U | 公开（公告）日： | 2016-03-30 |
| 发明（设计）人： | 卢杰 | 申请（专利权）人： | 万高（杭州）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 310053 浙江省杭州市滨*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种计量信号产生装置，包括用于根据预先存储的计量信号生成数据生成初始离散计量信号的MCU；分别与MCU以及第一基准电压给定装置连接的、用于依据第一基准电压给定装置提供的基准电压将初始离散计量信号转换成初始模拟计量信号的DAC；与DAC连接的、用于增强初始模拟计量信号的驱动能力，得到计量信号，并将计量信号输出至待测计量芯片的电压跟随器。可见，本实用新型能够根据预先存储的计量信号生成数据自动生成待测计量芯片测试所需的计量信号，构造简单，效率高且成本低。本实用新型还公开了一种计量芯片校验仪。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 计量 芯片 校验 信号 产生 装置 | ||
【主权项】：
一种计量信号产生装置，其特征在于，包括：用于根据预先存储的计量信号生成数据生成初始离散计量信号的MCU；分别与所述MCU以及第一基准电压给定装置连接的、用于依据所述第一基准电压给定装置提供的基准电压将所述初始离散计量信号转换成初始模拟计量信号的DAC；与所述DAC连接的、用于增强所述初始模拟计量信号的驱动能力，得到计量信号，并将所述计量信号输出至待测计量芯片的电压跟随器。
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