[实用新型]分立器件的测试转接装置有效

专利信息
申请号: 201520980786.8 申请日: 2015-12-01
公开(公告)号: CN205193111U 公开(公告)日: 2016-04-27
发明(设计)人: 王双 申请(专利权)人: 常州银河世纪微电子有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 常州市天龙专利事务所有限公司 32105 代理人: 夏海初
地址: 213022 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型涉及一种分立器件的测试转接装置,包括转接座、测试片副和紧固螺钉;所述转接座具有第一连接凹腔和第二连接凹腔,且转接座内沿其长度方向插入有两排测试插针,第一排为第一测试插针,第二排为第二测试插针,在第一连接凹腔内有由与第一测试插针连接的第一动测试片,和与转接座连接的第一定测试片有间距相对布置所组成的第一测试片副,在第二连接凹腔内有由与第二测试插针连接的第二动测试片,和与转接座连接的第二定测试片有间距相对布置所组成的第二测试片副;所述第一紧固螺钉穿过第一动测试片并指向第一定测试片,所述第二紧固螺钉穿过第二动测试片并指向第二定测试片。本实用新型不仅省时省力、无需焊接连接,而且测试效率高。
搜索关键词: 分立 器件 测试 转接 装置
【主权项】:
 一种分立器件的测试转接装置,其特征在于:包括转接座(1)、第一测试片副(2)、第二测试片副(3)、第一紧固螺钉(4)和第二紧固螺钉(5);而:所述转接座(1)具有第一连接凹腔(1‑1)和第二连接凹腔(1‑2),且转接座(1)内沿其长度方向插入有两排测试插针,第一排为第一测试插针(6‑1),第二排为第二测试插针(6‑2),在第一连接凹腔(1‑1)内有由与第一测试插针(6‑1)连接的第一动测试片(2‑1),和与转接座(1)连接的第一定测试片(2‑2)有间距相对布置所组成的第一测试片副(2),在第二连接凹腔(1‑2)内有由与第二测试插针(6‑2)连接的第二动测试片(3‑1),和与转接座(1)连接的第二定测试片(3‑2)有间距相对布置所组成的第二测试片副(3);所述第一紧固螺钉(4)穿过第一动测试片(2‑1)并指向第一定测试片(2‑2),所述第二紧固螺钉(5)穿过第二动测试片(3‑1)并指向第二定测试片(3‑2)。
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