[实用新型]具xyθz对位机构的检测装置及具多维对位机构的检测装置有效
| 申请号： | 201521046314.1 | 申请日： | 2015-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN205333797U | 公开（公告）日： | 2016-06-22 |
| 发明（设计）人： | 吴茂祥 | 申请（专利权）人： | 吴茂祥 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人： | 倪中翔;王淳 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型的具xyθz对位机构的检测装置，包括：一机台，包括一第一基座，该第一基座设有一供置放一电路板的承载部，该承载部所在平面定义一XY平面，且定义一垂直于该XY平面的Z轴方向；一第一多维对位机构，设于该机台且位于该第一基座相对上方，可沿该Z轴方向移动及可平行于该XY平面而移动；一第一检测模组，设于该第一多维对位机构，供检测置放于该承载部上的电路板。本申请还包括具多维对位机构的检测装置。 | ||
| 搜索关键词： | xy 对位 机构 检测 装置 多维 | ||
【主权项】：
一种具xyθz对位机构的检测装置，其特征在于，它包括：一机台，包括一第一基座，该第一基座设有一供置放一电路板的承载部，该承载部所在平面定义一XY平面，且定义一垂直于该XY平面的Z轴方向；一第一xyθz对位机构，设于该机台且位于该第一基座相对上方，可沿该Z轴方向移动及可平行于该XY平面而移动；一第一检测模组，设于该第一xyθz对位机构，供检测置放于该承载部上的电路板。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于吴茂祥，未经吴茂祥许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201521046314.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
