[实用新型]一种基于纵向电光晶体调制的电压检测器有效
申请号: | 201521079026.6 | 申请日: | 2015-12-23 |
公开(公告)号: | CN205353175U | 公开(公告)日: | 2016-06-29 |
发明(设计)人: | 严峰;史久林;杨俊杰;周锐;张余宝;武浩鹏;王泓鹏;钱佳成;何兴道 | 申请(专利权)人: | 南昌航空大学 |
主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00;G01R15/24 |
代理公司: | 南昌洪达专利事务所 36111 | 代理人: | 刘凌峰 |
地址: | 330063 江*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | 一种基于纵向电光晶体调制的电压检测器,包括:激光器,其用于发射激光作为输入光;起偏器,其作用于输入光而输出竖直偏振光;电光晶体,其响应于电压作用于输入光场的相位;1/4波片,其作用于竖直偏振光在光场分量上的相位;检偏器,其响应于输入光而输出水平偏振光;相位检测器,其作用于光场的分量输出其相位差;控制器,其作用相位信号输出电压信号。本实用新型的作用是:在电光晶体通电情况下,电光晶体内的折射率发生变化,使经过电光晶体的光在相位分量上产生相位差,最后通过相位检测器和控制器计算出所加电压的大小。本实用新型具有测量精度高,非接触性光学测量和高压检测的特点。 | ||
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【主权项】:
一种基于纵向电光晶体调制的电压检测器,包括:激光器,其用于发射激光作为输入光;起偏器,其作用于输入光而输出竖直偏振光;电光晶体,其响应于电压作用于输入光场的相位;1/4波片,其作用于竖直偏振光在光场分量上的相位;检偏器,其响应于输入光而输出水平偏振光;相位检测器,其作用于光场的分量输出其相位差;控制器,其作用相位信号输出电压信号;其特征在于:所述电压检测器所有元件固定在同一光轴,从左起依次排列激光器、起偏器、电光晶体、1/4波片、检偏器、相位检测器和控制器。
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