[实用新型]用于测量元素含量的设备有效

专利信息
申请号: 201521105255.0 申请日: 2015-12-25
公开(公告)号: CN205352974U 公开(公告)日: 2016-06-29
发明(设计)人: 程建平;曾志;马豪;李君利;苏川英 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 李志东
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型提出了一种用于测量元素含量的设备,该设备包括:第一探头,所述第一探头设置有原级X射线发生装置;第二探头,所述第二探头设置有特征X射线检测装置;屏蔽-准直装置,所述屏蔽-准直装置分别与所述第一探头、所述第二探头相连;以及分析装置,所述分析装置与所述第二探头相连。该设备采用可调节的插入式探头,探头可直接插入待测物体中,实现对待测物体,尤其对土壤等松散介质中不同位置/深度处的Ca、K、Au、U、Am等微量元素的浓度进行有效测量和分析。
搜索关键词: 用于 测量 元素 含量 设备
【主权项】:
一种用于测量元素含量的设备,其特征在于,包括:第一探头,所述第一探头设置有原级X射线发生装置;第二探头,所述第二探头设置有特征X射线检测装置;屏蔽‑准直装置,所述屏蔽‑准直装置分别与所述第一探头、所述第二探头相连;以及分析装置,所述分析装置与所述第二探头相连。
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