[发明专利]用于取决于方向地测量光学辐射源的至少一个光度学或辐射测量学特征量的方法和测角辐射计有效
申请号: | 201580016320.9 | 申请日: | 2015-03-11 |
公开(公告)号: | CN106233103B | 公开(公告)日: | 2019-07-19 |
发明(设计)人: | 卡斯滕·第姆;托马斯·赖纳斯;迪特尔·索罗卡;康斯坦丁·雷德瓦尔德;彼得·兰格 | 申请(专利权)人: | LMT光学测量技术(柏林)有限责任公司 |
主分类号: | G01J1/02 | 分类号: | G01J1/02;G01J3/50 |
代理公司: | 北京卓孚知识产权代理事务所(普通合伙) 11523 | 代理人: | 任宇;刘光明 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及用于取决于方向地测量光学辐射源(S)的至少一个光度学或辐射测量学特征量的方法和测角辐射计。在此,光度学或辐射测量学特征量的辐射方向采用平面系统(A、B、C)以及在所观察的平面内给出了辐射方向(α、β、γ)的辐射角度(α、β、γ)来描述,所述平面系统的各平面相交于经过辐射源的辐射重心的交线。传感器(SR)或辐射源(S)在测量中运动,使得传感器(SR)记录测量值,所述测量值在围绕辐射源(S)的辐射重心(LS)的球面上给出了光度学或辐射测量学特征量。建议将传感器(SR)或辐射源(S)固定在多轴枢转臂机器人上,且使机器人在检测测量值的测量过程期间围绕所述机器人的仅一个轴(A1、A6)枢转,其中所述测量值涉及平面系统(A、B、C)的一个所观察的平面内的不同的辐射角度(α、β、γ)或对于一个所观察的辐射角度(α、β、γ)涉及不同的平面。 | ||
搜索关键词: | 用于 取决于 方向 测量 光学 辐射源 至少 一个 光度学 辐射 测量学 特征 方法 辐射计 | ||
【主权项】:
1.一种用于取决于方向地测量光学辐射源(S)的至少一个光度学或辐射测量学特征量的方法,其中‑所述光度学或辐射测量学特征量的辐射方向采用平面系统(A、B、C)以及在所观察的平面内给出了辐射方向(α、β、γ)的辐射角度(α、β、γ)来描述,所述平面系统的各平面相交于经过所述辐射源的辐射重心的交线,‑将所述光度学或辐射测量学特征量的每个测量值与所述平面系统(A、B、C)的一个特定的平面以及此平面内的一个特定的辐射角度(α、β、γ)相对应,‑测量通过至少一个传感器(SR)进行,所述传感器(SR)适合于测量辐射源(S)的辐射,和‑所述传感器(SR)或所述辐射源(S)在测量中运动,使得所述传感器(SR)记录测量值,所述测量值在围绕所述辐射源(S)的辐射重心(LS)的球面上给出了所述光度学或辐射测量学特征量,其特征在于,所述传感器(SR)或所述辐射源(S)固定在多轴枢转臂机器人上,其中,所述机器人是六轴枢转机器人,该六轴枢转机器人包括第一轴、第二轴、第三轴、第四轴、第五轴和第六轴,第一轴与限定了垂直于第一轴定向的水平平面的基部相连,第六轴与用于抓持传感器或辐射源的机械接口相连,第六轴布置得离第一轴最远,第二轴至第五轴则顺序布置在第一轴和第六轴之间,且所述机器人在检测测量值的测量过程期间仅围绕所述机器人的第一轴(A1)或第六轴(A6)枢转,其中所述测量值涉及所述平面系统(A、B、C)的一个所观察的平面内的不同的辐射角度(α、β、γ)或对于一个所观察的辐射角度(α、β、γ)涉及不同的平面,并且,为在平面系统(A、B、C)的另外的平面内或在另外的辐射角度(α、β、γ)中测量所述光度学或辐射测量学特征量,在至少一个另外的枢转轴(A5、A3)中调节机器人,然后使机器人重新仅围绕上述的第一轴(A1)或第六轴(A6)枢转,其中,所述传感器(SR)或辐射源(S)在围绕轴(A1、A6)枢转前通过机器人被定位为,使得所述辐射源(S)的辐射重心(LS)处在所述轴(A1、A6)上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于LMT光学测量技术(柏林)有限责任公司,未经LMT光学测量技术(柏林)有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201580016320.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于监测食物废物的系统和方法
- 下一篇:用于照明器表征的方法及设备