[发明专利]缺陷检测装置以及缺陷检测方法有效
申请号: | 201580017050.3 | 申请日: | 2015-03-17 |
公开(公告)号: | CN106461567B | 公开(公告)日: | 2019-07-23 |
发明(设计)人: | 海老田孝夫;新家英正 | 申请(专利权)人: | 世联股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;D05B51/00;G01N21/84 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 徐冰冰;黄剑锋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 缺陷检测装置在将第一色线以及第二色线用作缝纫线的缝制品中,对缝纫线中所产生的缺陷进行检测。在缺陷检测装置中,照明部(3)对缝制品的检查对象面照射第一照明光。在此,第一照明光具有与在第一色线所具有的分光反射率特性中反射率低且在第二色线所具有的分光反射率特性中反射率比第一色线高的波带大致相同的波带。然后,缺陷检测装置使照明部(3)对缝制品照射第一照明光,在此状态下,使摄像部(2)对缝制品的检查对象面进行拍摄而取得缝制品的第一图像数据。此外,缺陷检测装置基于第一图像数据或通过对第一图像数据施加图像处理而生成的处理图像数据,对缺陷进行检测。 | ||
搜索关键词: | 缺陷 检测 装置 以及 方法 | ||
【主权项】:
1.一种缺陷检测装置,在将第一色线和与所述第一色线颜色不同的第二色线用作缝纫线的缝制品中,对所述缝纫线中产生的缺陷进行检测,具备:照明部,对所述缝制品的检查对象面照射第一照明光,该第一照明光具有与在所述第一色线所具有的分光反射率特性中所述第一色线的反射率比所述第二色线的反射率低且在所述第二色线所具有的分光反射率特性中所述第二色线的反射率比所述第一色线的反射率高的波带大致相同的波带;以及摄像部,对所述缝制品的所述检查对象面进行拍摄,使所述照明部对所述缝制品照射所述第一照明光,在此状态下,使所述摄像部对所述缝制品的所述检查对象面进行拍摄而取得所述缝制品的第一图像数据,基于使所述摄像部取得的所述第一图像数据或通过对所述第一图像数据施加图像处理而生成的处理图像数据,对所述缺陷进行检测。
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