[发明专利]用于相衬X射线成像的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201580024299.7 申请日: 2015-05-01
公开(公告)号: CN106659444B 公开(公告)日: 2020-02-21
发明(设计)人: D.斯图特曼 申请(专利权)人: 约翰斯·霍普金斯大学
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;A61B6/08
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 周学斌;陈岚
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种微分相衬X射线成像系统包括:X射线照射系统;布置在X射线照射系统的辐射路径中的分束器;以及被布置在辐射路径中以检测通过分束器之后的X射线的检测系统。
搜索关键词: 用于 射线 成像 系统 方法
【主权项】:
一种用于使用包括多区段源光栅、分束器光栅和分析器光栅的干涉仪对物体进行相衬成像的方法,其中该物体位于分束器光栅和分析器光栅之间,该方法包括:将X射线射束指引到多区段源光栅上,其中多区段源光栅的每个区段被偏移预定量;在单次曝光期间通过平移物体或干涉仪来获得多个图像,其中该多个图像具有不同的干涉仪定相;以及组合所获得的多个图像以产生物体的相衬图像。
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