[发明专利]用于将气体注入外延腔室的设备在审
申请号: | 201580024685.6 | 申请日: | 2015-05-21 |
公开(公告)号: | CN106663606A | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 李学斌;凯文·约瑟夫·鲍蒂斯塔;阿维纳什·舍韦盖尔;金以宽;尼欧·O·谬;阿布舍克·杜贝 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 | 代理人: | 徐金国,赵静 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明所述实施方式一般涉及用于在半导体装置上形成硅外延层的设备。可依序或同时提供沉积气体与蚀刻气体以改善外延层沉积特性。气体分配组件可与沉积气体源及蚀刻气体源耦接。在沉积气体与蚀刻气体提供至处理腔室的处理空间前,沉积气体与蚀刻气体可维持分开。气体分配组件的出口可经配置而将沉积气体与蚀刻气体以各式特性提供至处理空间中。在一个实施方式中,将蚀刻气体传送至处理空间的气体分配组件的出口可相对于基板表面而向上成角度。 | ||
搜索关键词: | 用于 气体 注入 外延 设备 | ||
【主权项】:
一种注入衬垫设备,包括:第一表面,所述第一表面具有于所述第一表面中形成的第一多个出口,所述第一多个出口用于注入衬垫中形成的第一多个通道,其中所述第一多个通道中的一或多个往相对于第一轴的所述第一多个出口向上成角度;及第二表面,所述第二表面具有于所述第二表面中形成的第二多个出口,所述第二多个出口用于所述注入衬垫中形成的第二多个通道,其中所述第二多个出口与所述第一多个出口共面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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