[发明专利]试验装置以及试验方法有效

专利信息
申请号: 201580030045.6 申请日: 2015-06-10
公开(公告)号: CN106461455B 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 早坂高雅;清水政利;竹内优;吉原诚 申请(专利权)人: 公益财团法人铁道综合技术研究所;株式会社电业
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00;B60L5/00;B60M1/12;G01J1/02
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司72003 代理人: 向勇,宋晓宝
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供便携性优秀,并且能够简单且廉价地进行检测电弧放电的装置的动作确认和校准的试验装置以及试验方法。本发明的一个实施方式的试验装置具有光半导体元件,其发出包含紫外光的光;发光控制部,其响应发光启动信号使所述光半导体元件持续发光规定时间,所述发光控制部具有振荡器,其以规定的振荡频率振荡;计数器,其响应所述振荡器的振荡输出开始计数,当计数值达到规定的设定值时停止计数;驱动电路,其基于所述计数器的计数结果驱动所述光半导体元件。
搜索关键词: 试验装置 以及 试验 方法
【主权项】:
一种试验装置,其中,具有:光半导体元件,其发出包含紫外光的光,所述紫外光是电气化铁路系统中的接触导线和受电弓的滑板的离线部位所产生的电弧放电所含的紫外光;发光控制部,其使所述光半导体元件持续发光规定时间,该发光控制部具有:振荡器,其以规定的振荡频率振荡;计数器,其响应所述振荡器的振荡输出开始计数,当计数值达到规定的设定值时停止计数;驱动电路,其基于所述计数器的计数结果驱动所述光半导体元件;光检测部,其检测由所述光半导体元件发出的光;发光时间修正部,其基于所述光检测部的检测结果,通过控制所述振荡频率,修正所述光半导体元件的发光时间。
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