[发明专利]用于检测微粒的传感器有效
申请号: | 201580035920.X | 申请日: | 2015-05-29 |
公开(公告)号: | CN106662518B | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | E.巴尔斯;A.蒂凡巴切;C.霍尔兹尼切特;M.贝森;F.弗赖坎普 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李永波;傅永霄 |
地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 建议一种用于检测微粒、尤其是炭黑颗粒的传感器(10)。该传感器包括传感器元件(12),其具有至少两个布置在载体衬底(16)上的测量电极(14),和包括保护管结构(18),其具有至少一外部保护管(20)和内部保护管(22)。所述传感器元件(12)在纵向延伸方向(24)上布置在内部保护管(22)中。所述外部保护管(20)和内部保护管(22)被设计成允许微粒进入到传感器元件(12)。所述内部保护管(22)被设计成允许微粒在偏离纵向延伸方向(24)的方向(40)上进入到传感器元件(12)。 | ||
搜索关键词: | 用于 检测 微粒 传感器 | ||
【主权项】:
一种用于检测微粒、尤其是炭黑颗粒的传感器(10),包括传感器元件(12),其具有至少两个布置在载体衬底(16)上的测量电极(14),和保护管结构(18),其具有至少一外部保护管(20)和内部保护管(22),其中所述传感器元件(12)在纵向延伸方向(24)上布置在内部保护管(22)中,其中所述外部保护管(20)和内部保护管(22)被设计成允许微粒进入到传感器元件(12),其中,所述内部保护管(22)被设计成允许微粒在偏离纵向延伸方向(24)的方向(40)上进入到传感器元件(12)。
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