[发明专利]纳米颗粒分析器有效
| 申请号： | 201580036526.8 | 申请日： | 2015-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN106716125B | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 达留什·斯特马斯基;贾恩·J·塔塔尔凯维奇;里克·A·雷诺兹;莫内特·卡尔 | 申请（专利权）人： | 加利福尼亚大学董事会 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14;G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 杨佳婧 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本文公开的主题提供了使用多频谱分析来检测和分析共存于流体样本中的相同、类似、或不同尺寸的个体纳米颗粒的方法。多个光源可以被配置为产生不同频谱波段的多个光束。光学部件可以被配置为将所述多个光束合并成一个或多个入射光片。每个入射光片可以照亮液体样本中的一个或多个纳米颗粒。一个或多个图像检测器可以被配置为使用多个波长检测由一个或多个纳米颗粒散射或发出的光。该多个波长与多个光束的不同频谱波段相对应。同样描述了相关装置、系统、技术和文章。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米 颗粒 分析器 | ||
【主权项】：
一种系统，包括：多个光源，所述多个光源被配置为产生不同频谱波段的多个光束；光学部件，所述光学部件被配置为将所述多个光束合并成一个或多个入射光片，每个入射光片照亮液体样本中的一个或多个纳米颗粒；以及一个或多个图像检测器，所述一个或多个图像检测器被配置为使用多个波长检测由一个或多个纳米颗粒散射的光，所述多个波长与所述多个光束的不同频谱波段相对应。
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