[发明专利]偏差估计装置和方法以及故障诊断装置和方法有效
| 申请号： | 201580036704.7 | 申请日： | 2015-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN106662472B | 公开（公告）日： | 2019-06-25 |
| 发明（设计）人： | 森山拓郎;爱须英之;波田野寿昭;藤原健一 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 李玲 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 根据实施例的偏差估计装置估计在每个传感器的测量值中所包括的偏差。偏差估计装置包括参考模型构建器、临时偏差生成器、校正测量值计算器、相似度计算器、相似度选择器、得分计算器以及估计偏差确定器。参考模型构建器构建测量值包的参考模型。临时偏差生成器生成临时偏差包。校正测量值计算器计算校正测量值包。相似度计算器计算每个校正测量值包的相似度。相似度选择器根据相似度的值从相似度之中选择相似度的一部分。得分计算器基于所选择的相似度来计算得分。估计偏差确定器基于得分来确定是偏差的估计值的估计偏差。 | ||
| 搜索关键词： | 偏差 估计 装置 方法 以及 故障诊断 | ||
【主权项】：
1.一种用于估计每个传感器的测量值中所包括的偏差的偏差估计装置，所述偏差估计装置包括：参考模型构建器，被配置为构建测量值包的参考模型，每个测量值包是传感器在单个测量动作中的测量值；临时偏差生成器，被配置为生成临时偏差包，该临时偏差包是传感器的偏差的临时估计值；校正测量值计算器，被配置为计算校正测量值包，每个校正测量值包是由临时偏差包校正的测量值包；相似度计算器，被配置为计算每个校正测量值包相对于参考模型的相似度；相似度选择器，被配置为从由相似度计算器计算的相似度之中根据相似度的值选择相似度的一部分；得分计算器，被配置为基于所选择的相似度计算指示整个校正测量值包相对于参考模型的相似度的得分；以及估计偏差确定器，被配置为基于得分确定估计偏差，该估计偏差是针对每个传感器的偏差的估计值。
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