[发明专利]用于测试头的接触探针和相应的制造方法在审
| 申请号： | 201580037677.5 | 申请日： | 2015-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN106662602A | 公开（公告）日： | 2017-05-10 |
| 发明（设计）人： | 罗伯特·克里帕;拉斐尔·瓦劳利;埃马努埃莱·贝塔雷利 | 申请（专利权）人： | 泰克诺探头公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙)11400 | 代理人： | 葛强,雷丽 |
| 地址： | 意大*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 描述了一种用于测试电子器件的装置的测试头的接触探针，该接触探针包括在接触尖端和接触头之间延伸的主体，所述接触探针包括至少一个第一部分和一个第二部分，该至少一个第一部分和一个第二部分由至少两种不同的材料制成并对应于焊接线连接在一起。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 接触 探针 相应 制造 方法 | ||
【主权项】：
一种接触探针(1)，用于测试电子器件的装置的测试头，该接触探针包括在接触尖端和接触头(11A、11B)之间延伸的主体，所述接触探针(11)包括至少一个第一部分(20)以及第二部分(21)，该至少一个第一部分(20)和第二部分(21)由至少两种不同的材料制成并且对应于焊接线(22)连接在一起。
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