[发明专利]用于表征闪烁体材料的表征装置有效
申请号: | 201580040855.X | 申请日: | 2015-07-10 |
公开(公告)号: | CN107209275B | 公开(公告)日: | 2019-08-20 |
发明(设计)人: | H·K·维乔雷克;C·R·龙达;H-A·维施曼;P·G·巴拉诺夫;G·阿萨特里安;D·O·托尔马切夫 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司;约费物理技术研究所 |
主分类号: | G01T1/202 | 分类号: | G01T1/202 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 孟杰雄;王英 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 本发明涉及一种用于表征特别是用于PET探测器的闪烁体材料(3)的表征装置(1)。第一辐射源(2)利用具有小于450nm的波长的第一辐射(4)来辐照所述闪烁体材料。然后,第二辐射源(5)利用具有大于600nm的波长并且具有等于或小于50s的脉冲持续时间的脉冲第二辐射(6)来辐照所述闪烁体材料,其中,在由所述第二辐射进行的所述辐照期间和/或之后,探测设备(9)探测来自所述闪烁体材料(3)的第三辐射(12)。所述第三辐射取决于在所述闪烁体材料的电子缺陷处捕获的电荷载体的量,使得其能够被用作针对电子缺陷的量的指示物,并且因此能够被用于表征所述闪烁体材料。所述表征能够以相对快速且相对简单的方式被执行。 | ||
搜索关键词: | 用于 表征 闪烁 材料 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于表征闪烁体材料(3)的表征装置,所述表征装置(1)包括:‑第一辐射源(2),其用于利用具有小于450nm的波长的第一辐射(4)来辐照所述闪烁体材料(3),‑第二辐射源(5),其用于在已经利用所述第一辐射(4)辐照了所述闪烁体材料(3)之后,利用具有大于600nm的波长并且具有等于或小于50s的脉冲持续时间的脉冲第二辐射(6)来辐照所述闪烁体材料(3),‑探测设备(9),其用于在由所述第二辐射(6)进行的所述辐照期间和/或之后探测来自所述闪烁体材料(3)的第三辐射(12),以便允许基于探测到的第三辐射(12)对所述闪烁体材料(3)的表征,所述第三辐射能用作针对捕获电荷载体的阱的量的指示物。
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