[发明专利]试样移动载置系统及太阳能电池的制造方法有效
申请号: | 201580050576.1 | 申请日: | 2015-09-30 |
公开(公告)号: | CN106716618B | 公开(公告)日: | 2020-05-12 |
发明(设计)人: | 宫本稔;柳原豊;牧田秀行 | 申请(专利权)人: | 株式会社钟化 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;C23C16/458;H01L31/0224 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 张思宝 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种试样移动载置系统,能阻止在移动载置中试样向面方向移动,且能修正试样的姿势,吸附的失败少且没有吸附时的破损。具备试样保持装置(20),试样保持装置具有与试样的一部分接触的接触销(接触部件)(31、32、33、34、35、36)和使接触销在沿着试样保持面(47)的方向移动的移动机构(41、42、43、44)。在基板支架(试样载置部件)(3)设置有载置基板(10)的试样载置预定区域(50)和凹部(51、52、53、54、55、56)。在使试样保持装置(20)接近试样载置预定区域(50)的状态时,使试样保持装置(20)的接触销进入凹部,并使移动机构动作,由此,接触销的一部分在凹部内移动。 | ||
搜索关键词: | 试样 移动 系统 太阳能电池 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种试样移动载置系统,具有试样载置部件和试样移动装置,该试样载置部件载置试样,该试样移动装置提升试样并使该试样在试样载置部件与其它场所之间移动,其特征在于,所述试样移动装置具备试样保持装置,所述试样保持装置具有与应提升的试样相对的试样保持面,通过使气体在所述试样保持面与试样之间流通而产生负压,利用该负压将试样吸附到试样保持面侧,并将试样保持在与试样保持面接近的位置,该试样保持装置具有与试样的一部分接触的接触部件和使接触部件在沿着试样保持面的方向移动的移动机构,在所述试样载置部件具有载置试样的试样载置预定区域,在该试样载置预定区域的边部或其附近设置凹部,在使所述试样保持装置接近试样载置部件的试样载置预定区域的状态时,使试样保持装置的接触部件的一部分进入所述凹部,并使移动机构动作,由此,接触部件的一部分在所述凹部内移动。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造