[发明专利]微光刻投射曝光装置的光学配置有效
申请号: | 201580050929.8 | 申请日: | 2015-09-17 |
公开(公告)号: | CN107077076B | 公开(公告)日: | 2019-08-23 |
发明(设计)人: | J.普罗赫诺;D.谢弗 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司SMT有限责任公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邱军 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 微光刻投射曝光装置(10)的光学配置,包含反射镜元件(M6),其具有反射镜基板(34)及形成于反射镜基板(34)的表面上的反射区域。所述配置另外包含配置为在至少一个自由度移动反射镜元件(M6)的至少一个致动器(46)、以及作用在反射镜基板(34)的安装元件(42)。根据本发明,安装元件(42)至少约在平衡位置独自保持反射镜元件(M6),使得至少一个致动器(46)在平衡位置至少约为不受力。 | ||
搜索关键词: | 微光 投射 曝光 装置 光学 配置 | ||
【主权项】:
1.一种微光刻投射曝光装置(10)的光学配置,其中该光学配置(40)包含:(a)反射镜元件(M6),具有反射镜基板(34)和形成于该反射镜基板(34)的表面上的反射区域;(b)至少一个致动器(46),配置为以至少一个自由度移动该反射镜元件(M6);以及(c)安装元件(42),作用于该反射镜基板(34),其中该安装元件(42)至少约在平衡位置独自保持该反射镜元件(M6),使得该至少一个致动器(46)在该平衡位置至少约为不受力;其中在该反射镜元件(M6)的重心(S)作用的重力(G)的有效线(WG)不与该反射区域(36)相交;以及其中该安装元件(42)施加安装力(F)于该反射镜元件(M6)上,且其中该安装力(F)的有效线(WF)与该重力(G)的有效线(WG)重合,或者在该基板内与该重力(G)的有效线(WG)相距一距离(B),该距离小于纵向范围(L)的0.1倍,该纵向范围为该反射镜元件(M6)在关于该重力(G)的有效线(WG)的所有正交平面中的最大纵向范围。
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