[发明专利]基于入射光子到达时间的识别、成像、测序法及存储介质

摘要

一种集成电路包括光检测区域，其被配置成接收入射光子。所述光检测区域被配置成响应于所述入射光子产生多个电荷载流子。集成电路还包括至少一个电荷载流子存储区域。所述集成电路还包括电荷载流子分离结构，其被配置成基于产生电荷载流子的时间将所述多个电荷载流子中的所述电荷载流子选择性地指引到所述至少一个电荷载流子存储区域中。

主权项

一种集成电路，其包括：光检测区域，其被配置成接收入射光子，所述光检测区域被配置成响应于所述入射光子产生多个电荷载流子；至少一个电荷载流子存储区域；以及电荷载流子分离结构，其被配置成基于产生电荷载流子的时间将所述多个电荷载流子中的所述电荷载流子选择性地指引到所述至少一个电荷载流子存储区域中。