[发明专利]针对使用质谱法和光谱法的分子分析的方法和设备

摘要

本发明提供一种分析分子的方法，其使得能够尤其在来自色谱分离的流中对所述分子进行化学、结构性及异构或构形鉴别，所述方法包含：由待分析的分子的样品产生离子；在低于环境温度下冷却所产生的所述离子；通过在一或多个预定谱间隔内用多个不同波长(λ)下的光辐射所述离子而使冷却后的所述离子中的至少一些碎片化；记录所述碎片化离子的碎片质谱，其包含在m/z值的预定范围内针对所述多个不同波长(λ)中的每一个的检测信号(I)与m/z的关系，由此记录所述检测信号(I)与m/z和辐射波长(λ)的二维相关性；及由所记录的所述二维相关性测定所产生的所述离子中的至少一个的特性和/或不同的所产生的离子的相对丰度，并由此测定所述分子中的至少一个的特性和/或所述样品中的不同分子的相对丰度。还提供用于进行所述方法的设备。

主权项

1.一种分析分子的方法，所述方法包含：由待分析的分子样品产生离子；在低于环境温度下冷却所产生的所述离子；通过在一或多个预定谱间隔内用多个不同波长(λ)下的光辐射所述离子而使冷却后的所述离子中的至少一些碎片化，在所述多个不同波长内扫描光的所述波长；当扫描光的所述波长时并行记录多个碎片化离子的碎片质谱，其包含在m/z值的预定范围内针对所述多个不同波长(λ)中的每一个的检测信号(I)与m/z的关系，由此记录所述检测信号(I)与m/z和辐射波长(λ)的二维光谱；及通过数学分析所记录的所述二维光谱中所述检测信号(I)与m/z和辐射波长(λ)两者之间的二维相关性，由所记录的所述二维光谱测定所产生的所述离子中的至少一个的特性和/或不同的所产生的离子的相对丰度，并由此测定所述分子中的至少一个的特性和/或所述样品中的不同分子的相对丰度。