[发明专利]天线测试装置和测试方法有效
| 申请号： | 201580058240.X | 申请日： | 2015-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN107076788B | 公开（公告）日： | 2021-02-23 |
| 发明（设计）人： | M·戈特尔;K-A·施泰因豪泽 | 申请（专利权）人： | 瑞典爱立信有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京市路盛律师事务所 11326 | 代理人： | 李宓;陈静 |
| 地址： | 瑞典斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明教导了一种用于测量被测天线的测量装置，包括：用于支撑被测天线的可移动支架，具有多个辐射振子的馈送天线。可移动支架位于与馈送天线相距预定距离处。天线馈送系统设有多个调节部件，用于调节来自多个辐射振子的波前的相位和振幅，使得波前在所述距离处基本上是平面的。 | ||
| 搜索关键词： | 天线 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测量被测天线(220)的测量装置(210)，包括：用于支撑被测天线(220)的可移动支架(230)；具有多个辐射振子(250‑1，250‑2，……，250‑N)的馈送天线(240)，其中所述可移动支架(230)位于与所述馈送天线(240)相距预定距离(d)处；以及天线馈送系统(260)，其具有多个调节部件，用于调节来自多个辐射振子(250‑1，250‑2，……，250‑N)的波前(245)的相位和振幅，使得波前在所述距离(d)处基本上是平面的。
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