[发明专利]密闭型二次电池的劣化诊断方法及劣化诊断系统在审

专利信息
申请号: 201580063543.0 申请日: 2015-05-29
公开(公告)号: CN107004917A 公开(公告)日: 2017-08-01
发明(设计)人: 福田武司;南方伸之 申请(专利权)人: 东洋橡胶工业株式会社
主分类号: H01M10/48 分类号: H01M10/48;G01R31/36
代理公司: 北京汇思诚业知识产权代理有限公司11444 代理人: 龚敏,王刚
地址: 日本国大阪府大阪*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的密闭型二次电池的劣化诊断方法包括检测密闭型二次电池的变形,求出第1曲线的步骤,其中所述第1曲线表示自满充电状态的放电容量或直至满充电状态为止的充电容量与所检测的上述密闭型二次电池的变形量的关系;求出第2曲线L3的步骤,其中所述第2曲线L3表示该充放电容量与上述第1曲线的斜率的关系;和在基于在第2曲线L3出现的峰的宽度所计算的充放电容量大于基于与第2曲线L3对应的规定基准状态下的峰的宽度所计算的充放电容量Qws3、Qws4时,判定为由反应分布的扩大所致的劣化模式的步骤。
搜索关键词: 密闭 二次 电池 诊断 方法 系统
【主权项】:
一种密闭型二次电池的劣化诊断方法,其特征在于,包括:检测所述密闭型二次电池的变形,求出第1曲线的步骤,其中所述第1曲线表示自满充电状态的放电容量或直至满充电状态为止的充电容量与所检测的所述密闭型二次电池的变形量的关系;求出第2曲线的步骤,所述第2曲线表示该充放电容量与所述第1曲线的斜率的关系;和在基于在所述第2曲线出现的峰的宽度所计算的充放电容量大于基于与其对应的规定基准状态下的峰的宽度所计算的充放电容量时,判定为由反应分布的扩大所致的劣化模式的步骤。
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