[发明专利]使用了物标的反射点信息的物标检测装置有效
申请号: | 201580064524.X | 申请日: | 2015-12-01 |
公开(公告)号: | CN107003399B | 公开(公告)日: | 2020-01-17 |
发明(设计)人: | 水谷玲义;宇山龙典 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | G01S13/06 | 分类号: | G01S13/06;G01S13/93;G01S13/34;G08G1/16 |
代理公司: | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 舒艳君;李洋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 物标检测装置具备反射点检测单元(26:S110~S140)、反射点设定单元(26:S140、S150)、后端位置信息生成单元(26:S150)及物标检测单元(26:S160)。反射点检测单元(26:S110~S140)按照每个测定周期收发雷达波来检测反射该雷达波的反射点的位置及速度。反射点设定单元(26:S140、S150)将检测出的反射点中反射强度为第一检测阈值以上的反射点设为高电平反射点,将反射强度为第二检测阈值以上且小于第一检测阈值的反射点设为低电平反射点。后端位置信息生成单元(26:S150)在每个高电平反射点检查以该高电平反射点为基准而设定的后端点探查范围,当在该后端点探查范围内存在满足同一物标条件的低电平反射点的情况下,将该低电平反射点的位置信息设为后端位置信息,与成为该后端点探查范围的基准的高电平反射点建立关联。物标检测单元(26:S160)使用高电平反射点的信息来检测存在于上述车辆的周围的物标。 | ||
搜索关键词: | 反射点 检测 高电平 探查 后端位置 低电平 反射 信息生成单元 雷达波 第二检测 检测装置 建立关联 收发 检查 | ||
【主权项】:
1.一种物标检测装置,搭载于车辆,生成与存在于该车辆的周围的物标相关的信息,其特征在于,具备:/n反射点检测单元(26:S110~S140),按照每个预设的测定周期收发雷达波,来检测反射该雷达波的反射点的位置以及速度;/n反射点设定单元(26:S140、S150),将所述反射点检测单元所检测出的反射点中反射强度为预设的第一检测阈值以上的反射点设为高电平反射点,将反射强度为第二检测阈值以上且小于所述第一检测阈值的反射点设为低电平反射点,所述第二检测阈值被设为比所述第一检测阈值低的值;/n后端位置信息生成单元(26:S150),在每个所述高电平反射点检查以该高电平反射点为基准而设定在该高电平反射点的靠所述车辆侧位置的后端点探查范围,当在该后端点探查范围内存在满足预设的同一物标条件的所述低电平反射点的情况下,将该低电平反射点的位置信息设为后端位置信息,与成为该后端点探查范围的基准的高电平反射点建立关联;以及/n物标检测单元(26:S160),使用所述高电平反射点的信息,来检测存在于所述车辆的周围的物标。/n
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