[发明专利]用于诸如多模式光纤几何测量的光纤测量的装置、系统和方法有效

专利信息
申请号: 201580067675.0 申请日: 2015-11-09
公开(公告)号: CN107407617B 公开(公告)日: 2019-11-19
发明(设计)人: S·J·弗洛里斯;T·博莱尔;B·P·德翁 申请(专利权)人: 康普亚洲控股有限责任公司
主分类号: G01M11/08 分类号: G01M11/08;G01M11/00
代理公司: 11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 白皎<国际申请>=PCT/EP2015/
地址: 荷兰*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明提出了一种用于测试光纤的方法,包括利用光学测试仪器测量光纤在围绕其光轴的多个旋转角度处的诸如包覆层非圆度的特性。通过测量,产生表示相应的旋转角度处的特性的测得值的数据点。形成具有作为可变参数的特性的光纤的模型,并从模型产生特性的预期测量值、旋转角度和可变参数之间的函数关系。通过改变参数,根据一个或多个预定的标准,诸如最小二乘法拟合,作出函数关系对数据点的拟合。特性的值可基于拟合查找。仪器参数,诸如光纤偏差和切割角度也可通过该方法确定。
搜索关键词: 函数关系 可变参数 拟合 光纤 测量 最小二乘法拟合 光学测试仪器 测量光纤 测试光纤 改变参数 模型产生 仪器参数 包覆层 非圆度 数据点 光轴 切割 查找
【主权项】:
1.一种用于测试光纤的方法,包括:/n利用光纤测试仪器测量光纤在围绕其光轴的旋转的多个旋转角度处的特性,以通过所述测量产生表示在所述多个旋转角度处测得的所述特性的值的多个数据点;/n形成使所述特性作为第一可变参数并且包括作为第二可变参数的关于所述光纤测试仪器的量的光纤模型,/n通过所述光纤模型产生在特性的预期测得值、所述旋转角度、所述第一可变参数与所述第二可变参数之间的函数关系;/n根据一个或多个预定的标准使所述第一可变参数和所述第二可变参数变化以将所述函数关系与所述数据点拟合;/n基于拟合确定所述特性的值,/n其中,所述方法进一步包括切割所述光纤以产生切割端部表面,其中关于所述光纤测试仪器的量包括取决于所述切割端部表面和所述光纤的光轴之间的角度的量。/n
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