[发明专利]基于像素的死时间校正有效
| 申请号： | 201580068529.X | 申请日： | 2015-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN107110983B | 公开（公告）日： | 2020-02-07 |
| 发明（设计）人： | T·L·劳伦斯;S·X·王 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/17 | 分类号： | G01T1/17;G01T1/24 |
| 代理公司： | 72002 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 李光颖;王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种正电子发射断层摄影(PET)装置和方法使用多个辐射探测器(20)，所述多个辐射探测器围绕成像区域(16)设置并且被配置为探测从所述成像区域发出的511keV辐射事件。将校准体模设置在所述成像区域中。一个或多个处理器被配置为：采集并存储体模的列表模式数据；使用符合511keV事件探测器(34)以时间偏移(54)测量来自所述列表模式数据的每条响应线(LOR)的随机率；根据随机事件率确定每个探测器像素的单一率，例如，经由绘制每个探测器像素的单一率的直方图；计算每条LOR的活时间因子；计算作为活时间因子的倒数的死时间校正因子；并且根据所述死时间校正因子校正图像。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 像素 时间 校正 | ||
【主权项】：
1.一种正电子发射断层摄影(PET)系统，包括：/n多个辐射探测器(20)，其被配置为探测定义响应线(LOR)的符合辐射事件对，所述符合辐射事件对是从成像区域发出的，并且由所述辐射探测器的探测器像素探测到；以及/n至少一个处理器，其被配置为：/n令所述辐射探测器采集包括由所述探测器像素探测到的单事件的列表模式数据；并且/n计算由探测器像素的对定义的每条LOR的死时间校正因子，/n其中，计算每条LOR的所述死时间校正因子包括：/n根据所述列表模式数据确定每条LOR的随机率；/n根据所确定的随机率确定每个探测器像素的单一率；并且/n分别基于探测器像素i和j的所述单一率S
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