[发明专利]在衬底上形成钴互连有效
申请号: | 201580075674.0 | 申请日: | 2015-12-29 |
公开(公告)号: | CN107208295B | 公开(公告)日: | 2020-08-07 |
发明(设计)人: | 罗伊·沙维夫;约翰·莱姆;蒂莫西·博赫曼 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | C25D3/12 | 分类号: | C25D3/12;C25D5/10;C25D5/18;C25D5/50;C25D7/12;C25D17/00;H01L21/02;H01L21/67;H01L21/677 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国;赵静 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种晶片电镀系统具有至少一个第一电镀腔室,所述第一电镀腔室具有含钴离子的第一电解质,并且适于以第一沉积速率电镀钴膜到晶片上。第二电镀腔室具有含钴离子的第二电解质,并且适于以第二沉积速率电镀钴膜到所述晶片上,所述第二沉积速率比所述第一沉积速率大。所述第一电镀腔室与第二电镀腔室处于处理系统的围壁内。机械手在所述第一电镀腔室与第二电镀腔室之间移动晶片。 | ||
搜索关键词: | 衬底 形成 互连 | ||
【主权项】:
暂无信息
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