[发明专利]半导体X射线检测器有效
| 申请号： | 201580077791.0 | 申请日： | 2015-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN107533146B | 公开（公告）日： | 2019-06-18 |
| 发明（设计）人： | 曹培炎;刘雨润 | 申请（专利权）人： | 深圳帧观德芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 | 代理人： | 罗水江 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市前海深港合作区前*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本文公开适合于检测X射线的装置，其包括：X射线吸收层(110)，其包括电极；电子层(120)，该电子层(120)包括：具有第一表面(124)和第二表面(128)的衬底(122)、衬底(122)中或衬底(122)上的电子系统(121)、第一表面(124)上的电触点(125)、通孔(126)和第二表面(128)上的再分布层(RDL)(123)；其中RDL(123)包括传输线(127)；其中通孔(126)从第一表面(124)延伸到第二表面(128)；其中电极电连接到电触点(125)；其中电子系统(121)通过通孔(126)电连接到电触点(125)和所述传输线(127)。 | ||
| 搜索关键词： | 第二表面 第一表面 电触点 衬底 通孔 传输线 电子系统 电子层 电极电连接 检测X射线 再分布层 电连接 电极 半导体 延伸 | ||
【主权项】：
1.一种适合于检测x射线的装置，其包括：X射线吸收层，该X射线吸收层包括电极；电子层，所述电子层包括：具有第一表面和第二表面的衬底、所述衬底中或所述衬底上的电子系统、所述第一表面上的电触点、通孔和所述第二表面上的再分布层(RDL)；其中所述再分布层包括传输线；其中所述通孔从所述第一表面延伸到所述第二表面；其中所述电极电连接到所述电触点；其中所述电子系统通过所述通孔电连接到所述电触点和所述传输线；其中所述电子系统包括：第一电压比较器，该第一电压比较器配置成将所述电极的电压与第一阈值比较；第二电压比较器，该第二电压比较器配置成将所述电压与第二阈值比较；计数器，该计数器配置成记录到达所述X射线吸收层的X射线光子的数目；控制器；其中所述控制器配置成从所述第一电压比较器确定所述电压的绝对值等于或超出所述第一阈值的绝对值的时间启动时间延迟；其中所述控制器配置成在所述时间延迟期间启动所述第二电压比较器；其中所述控制器配置成如果所述第二电压比较器确定所述电压的绝对值等于或超出所述第二阈值的绝对值则促使所述计数器记录的数目增加一。
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