[发明专利]荧光X射线分析装置及其中使用的光谱显示方法有效
| 申请号： | 201580082847.1 | 申请日： | 2015-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN108027331B | 公开（公告）日： | 2023-09-15 |
| 发明（设计）人： | 古川博朗 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 日本国京都府京*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 为了不变更装置结构而以软件方式识别荧光X射线与衍射X射线、并在光谱中的波峰处显示荧光X射线信息与衍射X射线信息，本发明的荧光X射线分析装置具备将X射线射出到试样的X射线管(10)以及检测来自试样的X射线的检测器(30)，该荧光X射线分析装置根据由检测器(30)检测到的X射线，制作并显示表示X射线能量与元素的含量的关系的光谱，其中，荧光X射线分析装置具备：识别信息制作部(61c)，其制作对基于衍射X射线的波峰位置进行确定的识别信息，该衍射X射线根据试样的晶体结构而产生；以及显示控制部(61d)，其根据识别信息，在光谱中的波峰处显示衍射X射线信息。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 射线 分析 装置 其中 使用 光谱 显示 方法 | ||
【主权项】：
1.一种荧光X射线分析装置，具备：X射线管，其将X射线射出到试样；以及检测器，其检测来自所述试样的X射线，所述荧光X射线分析装置根据由所述检测器检测到的X射线，制作并显示光谱，该光谱表示X射线能量与元素的含量的关系，所述荧光X射线分析装置的特征在于，具备：识别信息制作部，其制作对基于衍射X射线的波峰位置进行确定的识别信息，该衍射X射线根据所述试样的晶体结构而产生；以及显示控制部，其根据所述识别信息，在所述光谱中的波峰处显示衍射X射线信息。
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