[发明专利]一种使用X射线检测器测量X射线的强度分布的方法有效
| 申请号： | 201580083565.3 | 申请日： | 2015-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN108139493B | 公开（公告）日： | 2020-10-30 |
| 发明（设计）人： | 曹培炎;程华斌 | 申请（专利权）人： | 深圳帧观德芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 | 代理人： | 罗水江 |
| 地址： | 518071 广东省深圳市南山区桃源街道塘朗*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本文公开使用X射线检测器测量X射线的强度分布的方法，该方法包括：确定X射线检测器上至少三个位点处的暗电流的值，其中这三个位点不在一条直线上；使用暗电流的值确定X射线的吸收率的空间变化；测量X射线的表观强度分布；通过从表观强度分布去除吸收率的空间变化的贡献来确定强度分布。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 使用 射线 检测器 测量 强度 分布 方法 | ||
【主权项】：
一种使用X射线检测器测量X射线的强度分布的方法，所述方法包括：确定所述X射线检测器上至少三个位点处的暗电流的值，其中所述三个位点不在一条直线上；使用所述暗电流的值确定所述X射线的吸收率的空间变化；测量所述X射线的表观强度分布；通过从所述表观强度分布去除吸收率的空间变化的贡献来确定所述强度分布。
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