[发明专利]具有激光解吸离子源和长使用寿命的激光系统的质谱仪

摘要

本发明涉及一种具有激光解吸离子源的质谱仪，具体来说用于使用基质辅助激光解吸/电离MALDI的电离过程。提出一种用于所述激光解吸离子源的具有光学激光光斑控制的激光系统，其中通过反射镜系统上的时间可变角偏转产生的激光光斑偏移不是在激光束已离开倍频晶体系统之后在频率增加的激光束上进行，而是在能量倍增之前或在能量倍增的过程中在所述激光束上进行。通过所述反射镜系统偏转小角度的所述激光束借助于合适的高质量平场光学单元转换成平行偏移的激光束，所述激光束接着通过倍频晶体。在从所述倍频晶体系统出射之后，平行偏移的光束借助于合适的平场光学单元转换成稍微成角度的光束，然后所述成角度的光束在样品上产生所述光斑偏移。借助于所述激光束在所述倍频晶体中的恒定时间变化的平行偏移，所述倍频晶体经过平缓处理，从而增加了所述晶体的使用寿命。

主权项

1.一种质谱仪，其包括借助于激光解吸使样品支架(13)上的样品电离的离子源，并且为此目的包括激光系统(1)和检测所产生的离子的质量分析仪，其中所述激光系统(1)包括以下子系统：a)激光器(2)，其用于生成长波长光的激光束脉冲，b)倍频晶体系统(5，6)，其用于从所述长波长光的激光束脉冲生成短波长光的激光束脉冲，c)反射镜系统(7，8)，其用于借助激光束脉冲的角偏转对所述样品支架(13)上的激光光斑进行位置控制，d)在所述反射镜系统(7，8)后方的第一平场光学系统(3)，其用于将所述激光束脉冲的所述角偏转转变成平行偏移，以及e)在所述倍频晶体系统(5，6)后方的第二平场光学系统(4)，其用于将所述平行偏移转变回所述短波长光的激光束脉冲的角偏转。