[其他]微测辐射热仪及红外摄像机和成像装置有效

专利信息
申请号: 201590000839.3 申请日: 2015-06-03
公开(公告)号: CN207456611U 公开(公告)日: 2018-06-05
发明(设计)人: R·F·卡纳塔;K·彼得斯;P·富兰克林;J·L·戴尔;T·马克斯;C·肖特;R·萨拉费安;R·E·玻恩弗洛恩德;S·科塔里 申请(专利权)人: 菲力尔系统公司
主分类号: G01J5/04 分类号: G01J5/04
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 胡春光;张颖玲
地址: 美国俄*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 实用新型提供了一种微测辐射热仪及红外摄像机和成像装置。该微测辐射热仪包括桥,该桥包括:温度敏感电阻层;在温度敏感电阻层上方和下方的一层或多层吸收介电层;与温度敏感电阻层电隔离的并且在吸收介电层上方和/或下方的一层或多层金属层;以及置于所述一层或多层金属层上的介电层,其中所述金属层的每一层在所述介电层和所述吸收介电层的一层之间。该红外摄像机包括:包括微测辐射热仪的焦平面阵列和读出集成电路。该成像装置包括微测辐射热仪阵列和读出集成电路。
搜索关键词: 介电层 辐射热仪 温度敏感电阻 红外摄像机 成像装置 多层金属层 读出 集成电路 吸收 本实用新型 焦平面阵列 电隔离 辐射热 金属层 多层
【主权项】:
一种微测辐射热仪,其特征在于,该微测辐射热仪包括:桥,该桥包括:温度敏感电阻层;在温度敏感电阻层上方和下方的一层或多层吸收介电层;与温度敏感电阻层电隔离的并且在吸收介电层上方和/或下方的一层或多层金属层;以及置于所述一层或多层金属层上的介电层,其中所述金属层的每一层在所述介电层和所述吸收介电层的一层之间。
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