[发明专利]一种对AMOLED进行检测分类的方法及装置

摘要

本申请公开了一种对AMOLED进行检测分类的方法及装置，用以实现AMOLED的自动检测分类，提高工作效率，以及提高AMOLED分类的准确性，避免人工检测误差以及对人眼的伤害。本申请提供的一种对AMOLED进行检测分类的方法，包括：将对AMOLED采集得到的待匹配图像与预设的模板图像库进行匹配；根据匹配结果，对所述AMOLED进行分类。

主权项

1.一种对有源矩阵有机发光二极体面板AMOLED进行检测分类的方法，其特征在于，该方法包括：将对AMOLED采集得到的待匹配图像与预设的模板图像库进行匹配；根据匹配结果，对所述AMOLED进行分类；其中，所述将对AMOLED采集得到的待匹配图像与预设的模板图像库进行匹配，包括：计算对所述AMOLED采集得到的待匹配图像与预设的模板图像库中的图像的相似度，并将该相似度与预设的相似度阈值进行比较，其中，求取所述待匹配图像与任一模板图像的相似度包括：采用公式(1)求取待匹配图像与模板图像的马哈拉诺比斯距离，并将马哈拉诺比斯距离通过公式(2)转化为待匹配图像与模板图像的相似度；所述预设的模板图像库，还包括不良模板图像库，该不良模板图像库中包括n个不良子库，其中n为大于或等于1的正整数；所述将对AMOLED采集得到的待匹配图像与预设的模板图像库进行匹配，还包括：当对AMOLED分别采集到的任一所述待匹配图像与相应颜色的优良模板图像子库不匹配时，将该待匹配图像与不良模板图像库中的不良子库进行匹配；所述根据匹配结果，对AMOLED进行分类，还包括：当对AMOLED分别采集到的待匹配图像与一不良子库i匹配时，为该AMOLED设置标记i，其中i大于或等于1，且小于或等于n；当对AMOLED分别采集到的待匹配图像与任一不良子库均不匹配时，将该待匹配图像存入不良模板图像库，并确定该待匹配图像所属的不良子库，重新对该AMOLED进行检测分类；公式(1)为公式(2)为ρ表示所述马哈拉诺比斯距离，表示模板图像的均值；表示待匹配图像的均值；表示待匹配图像的协方差阵的伪逆，F表示待匹配图像与模板图像的相似度，d为积分公式的表示符号，t表示马氏距离的积分变量，erf表示误差函数。