[发明专利]PTN设备接口测试的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201610005807.3 申请日: 2016-01-06
公开(公告)号: CN105430678B 公开(公告)日: 2018-12-28
发明(设计)人: 汤岚;程泉;黄敏 申请(专利权)人: 烽火通信科技股份有限公司
主分类号: H04W24/02 分类号: H04W24/02
代理公司: 北京捷诚信通专利事务所(普通合伙) 11221 代理人: 王卫东
地址: 430074 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种PTN设备接口测试的方法及装置,该方法包括:将板卡插进测试子框与测试背板相连接;将测试软件加载到板卡内存里运行并进行自动化测试;操作板卡中寄存器,设置TOD初始值;选择由板卡中寄存器产生的TOD值和来自外时间接口1的秒脉冲送出到外时间同步输出接口,之后选择接收来自外时间接口1的PPS和TOD;测试软件读取板卡中接收到的TOD两个16位寄存器值,若该值大于之前设定的TOD初始值且测试背板能正常检测到板卡输出的外时间接口1的PPS信号有跳变沿则认定外时间接口1硬件通道正常,否则认定外时间接口1硬件通道存在故障。本发明测试过程简单,成本较低,且自动化测试方式大大提高了接口测试的效率。
搜索关键词: ptn 设备 接口 测试 方法 装置
【主权项】:
1.PTN设备接口测试的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤101:将板卡插进测试子框与测试背板相连接,板卡的外时间同步输出接口1通过测试背板连接到板卡的外时间同步输入接口1;步骤102:测试背板产生一个秒脉冲信号发送给板卡输入的外时间接口1的PPS;步骤103:板卡输出的外时间接口1的PPS信号发送给测试背板进行检测;步骤104:将板卡编译后的测试软件加载到板卡内存里运行;步骤105:关断板卡中寄存器1写TOD秒的使能,向寄存器2中依次写入32位TOD初始值;步骤106;关闭TOD的初始值状态,并打开板卡中寄存器1写TOD秒的使能;步骤107:设置PPS&TOD选择寄存器,选择接收板卡输入的外时间接口1的PPS和FPGA内部寄存器的TOD;步骤108:等待五秒钟之后,设置PPS&TOD选择寄存器,选择接收板卡输入的外时间接口1的PPS和输入TOD;步骤109:测试软件读取板卡中接收到的TOD两个16位寄存器的值,并判断该值是否大于之前设定的TOD初始值,如果是,则执行步骤111;否则,则执行步骤110;步骤110:认定外时间接口1的硬件通道存在故障;步骤111:判断测试背板是否能正常检测到板卡输出的外时间接口1的PPS信号有跳变沿,如果是,则执行步骤112;否则,返回步骤110;步骤112:认定外时间接口1的硬件通道正常;其中,所述TOD信息波特率默认为9600,无奇偶校验,1个起始位,1个停止位,空闲帧为高电平,8个数据位,在秒脉冲上升沿1ms后开始传送TOD信息,并在500ms内传完,此TOD消息标示当前秒脉冲上升沿时间,TOD协议报文发送频率为每秒1次。
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