[发明专利]正六面体磁梯度张量系统误差直接校正方法

摘要

本发明属于磁测量技术领域，具体涉及正六面体磁梯度张量系统误差直接校正方法。技术方案包括以下步骤：S1，将正六面体磁梯度张量系统放置在匀强磁场中，旋转系统并记录各个磁通门磁力仪的输出值；S2，选定系统中某个磁力仪作为参考磁力仪，利用线性化校正方法求出其单磁力仪系统误差校正参数；S3，根据系统中剩余的磁力仪与参考磁力仪的输出值之间的关系，将剩余磁力仪的输出值转换到参考磁力仪的输出值，然后利用参考磁力仪的单磁力仪误差系数进行校正；S4，利用得到误差校正参数即可对正六面体磁梯度张量系统进行误差校正。本发明可实现对正六面体磁梯度张量系统误差的直接校正，校正流程简单，且校正参数减少，校正效率提高。

主权项

一种正六面体磁梯度张量系统的直接校正方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1，将正六面体磁梯度张量系统放置于三轴无磁旋转平台上，在匀强磁场中旋转系统，记录各个磁通门传感器的输出值；步骤S2，选定系统中某个磁通门磁力仪作为参考磁力仪，利用线性化校正方法求出参考磁力仪的单磁力仪系统误差校正参数；步骤S3，根据系统中剩余的磁通门磁力仪与参考磁力仪的输出值之间的对应关系，首先将剩余磁力仪的输出值转化成参考磁力仪输出值，然后利用参考磁力仪的单磁力仪误差校正方法，从而实现对剩余磁力仪的安装误差及单磁力仪误差的校正；步骤S4，利用得到的参考磁力仪误差校正参数及剩余磁通门磁力仪与参考磁力仪的输出值之间的对应关系即可实现正六面体磁梯度张量系统的误差校正。