[发明专利]磁场测量仪分辨率的检测方法和装置有效
| 申请号： | 201610006498.1 | 申请日： | 2016-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN105548935B | 公开（公告）日： | 2018-11-09 |
| 发明（设计）人： | 袁建生;上官云祺 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张大威 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种磁场测量仪分辨率的检测方法和装置，其中，该方法包括以下步骤：将基准仪和被检测仪连接到一个同步数据采集卡上；通过同步数据采集卡同步采集基准仪的N个基准仪信号和被检测仪的N个被检测仪信号；根据基准仪信号和被检测仪信号之间的相关性对基准仪信号和被检测仪信号进行归一化做差处理，生成恒定磁场Bdi，以确定时变成分的峰值Br；若时变成分的峰值Br小于被检测仪标称的分辨率，则判断被检测仪的分辨率能达到其标称值。本发明实施例，能够通过对基准仪和被检测仪的采集信号进行归一化做差处理，获取恒定磁场以及时变成分的峰值，并通过恒定磁场测量仪分辨率定量评判准则，实现了背景磁场干扰下的高分辨率磁场测量仪的分辨率检测。 | ||
| 搜索关键词： | 磁场 测量仪 分辨率 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种磁场测量仪分辨率的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：将基准仪和被检测仪连接到一个同步数据采集卡上，其中，所述基准仪的分辨率高于所述被检测仪的分辨率；通过所述同步数据采集卡同步采集所述基准仪的N个基准仪信号和所述被检测仪的N个被检测仪信号，其中，N为正整数；根据所述基准仪信号和所述被检测仪信号之间的相关性对所述基准仪信号和所述被检测仪信号进行归一化做差处理，生成恒定磁场Bdi，以确定时变成分的峰值Br，其中，所述根据所述基准仪信号和所述被检测仪信号之间的相关性对所述基准仪信号和所述被检测仪信号进行归一化做差处理，生成所述恒定磁场Bdi，以确定时变成分的峰值Br，具体包括：计算所述基准仪信号的平均绝对离差R1和所述被检测仪信号的平均绝对离差R2；计算按照所述基准仪信号的平均绝对离差R1与所述被检测仪信号的平均绝对离差R2的比值缩放的第i个所述被检测仪的输出信号B'2i，其中，i为小于或等于所述N的正整数；计算所述恒定磁场Bdi；根据所述恒定磁场Bdi确定所述时变成分的峰值Br；判断所述时变成分的峰值Br是否小于所述被检测仪标称的分辨率，若所述时变成分的峰值Br小于所述被检测仪标称的分辨率，则判断所述被检测仪的分辨率能达到其标称值。
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