[发明专利]一种晕圈、PI裂纹的观察分析方法在审
| 申请号： | 201610008299.4 | 申请日： | 2016-01-01 |
| 公开（公告）号： | CN105548215A | 公开（公告）日： | 2016-05-04 |
| 发明（设计）人： | 况东来;胡梦海;陈蓓 | 申请（专利权）人： | 广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;广州市兴森电子有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N1/32 |
| 代理公司： | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人： | 汤喜友 |
| 地址： | 510663 广东省广州市广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种晕圈、PI裂纹的观察分析方法，包括以下步骤：S1、对待观察分析的PCB样品进行固定，并保持样品的表面水平；S2、对样品制备水平切片；S3、用第一砂纸对已水平切片的样品截面进行研磨；S4、当研磨至接近晕圈或PI裂纹时，采用第二砂纸进行抛光；S5、使用金相显微镜的暗场对抛光后的样品进行观察和测量，获得晕圈分布或PI裂纹分布。本发明能够准确、全面地观察分析PI裂纹、晕圈分布。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 pi 裂纹 观察 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种晕圈、PI裂纹的观察分析方法，其特征在于包括以下步骤：S1、对待观察分析的PCB样品进行固定，并保持样品的表面水平；S2、对样品制备水平切片；S3、用第一砂纸对已水平切片的样品截面进行研磨；S4、当研磨至接近晕圈或PI裂纹时，采用第二砂纸进行抛光；S5、使用金相显微镜的暗场对抛光后的样品进行观察和测量，获得晕圈分布或PI裂纹分布。
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