[发明专利]一种芯片内部时钟产生和差异性检测方法及电路有效
| 申请号： | 201610015131.6 | 申请日： | 2016-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN105680852B | 公开（公告）日： | 2018-08-07 |
| 发明（设计）人： | 廖裕民;郑天翼 | 申请（专利权）人： | 福州瑞芯微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H03L7/07 | 分类号： | H03L7/07;H03L7/08 |
| 代理公司： | 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 | 代理人： | 林晓琴 |
| 地址： | 350000 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片内部时钟产生和差异性检测方法和装置，根据开关控制信号的控制将LVT、RVT、HVT三个反相器链分别连成环路，得到三个振荡环并产生振荡时钟，在固定时长内对振荡时钟进行计数，得到计数值；根据计数值和预设的DVFS映射表格进行判断,得到当前芯片最适合的电压和频率对应关系，即可以此对应关系对当前电压及当前最高时钟频率进行调整；且振荡时钟根据使用的需求作第一级多路选择，再和芯片的晶体振荡电路时钟作第二级多路选择，以实现对芯片在不同批次和不同环境下的最佳性能的检测,使每一个芯片都可以充分发挥自己的最大性能，同时还可以节省能耗。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 内部 时钟 产生 差异性 检测 方法 电路 | ||
【主权项】：
1.一种芯片内部时钟产生和差异性检测方法，其特征在于：根据开关控制信号的控制将LVT、RVT、HVT三个反相器链分别连成环路，得到三个振荡环并产生振荡时钟；所述三个振荡环产生的振荡时钟分别在固定时长内对振荡时钟进行计数，得到计数值；根据所得的计数值和预设的DVFS映射表格的内容进行判断,得到当前芯片最适合的电压和频率对应关系；根据该对应关系对当前电压及当前最高时钟频率进行调整；同时,所述三个振荡环产生的振荡时钟根据使用的需求作第一级多路选择，从而选择其中一路作为芯片的备选工作时钟输出，需要高频率时选通LVT的振荡时钟,需要低频率时选通HVT的振荡时钟，需要中间频率时则选通RVT的振荡时钟；所述备选工作时钟输出后,再和芯片的晶体振荡电路时钟作第二级多路选择，其中，当三个振荡环工作后,选通备选工作时钟，反之，当三个振荡环不工作时，则选通晶体振荡电路。
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