[发明专利]一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置

摘要

本发明公开了一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置，每个信号输入端可以分时输入多种信号，进而通过对应的开关控制形成多条输入信号线路，多条信号线路通过开关的控制使得走向完全不同，例如，其中一条信号线路可以作为正常点灯检测时的信号输入线，另外一条信号线路则作为其他特殊测试时的信号输入线路例如老化处理，这样通过控制信号端控制相应的开关，使得不同的输入信号通过不同的信号线路进入显示面板，以满足显示面板的正常点灯测试、老化处理等测试需求，相对于现有技术测试信号的输入可以不经过移位寄存器单元，避免了特殊测试信号例如老化信号对移位寄存器单元的损坏，保证了显示面板的正常显示功能。

主权项

1.一种测试电路，其特征在于，包括：三个信号输入端、两个控制信号端、六个开关晶体管、多个扫描信号输入端、多个发光信号输入端、多个第一控制开关、多个第二控制开关、多个第三控制开关、多个第四控制开关以及多个第五控制开关；其中，每个控制信号端对应三个所述开关晶体管；每个所述信号输入端对应两个所述开关晶体管；各所述开关晶体管的栅极与对应的所述控制信号端相连，源极与对应的所述信号输入端相连，漏极用于输出对应的所述信号输入端输入的信号；各所述开关晶体管用于在对应的所述控制信号端的控制下，将对应的所述信号输入端输入的信号通过输出端输出；三个所述信号输入端分别为第一信号输入端、第二信号输入端和第三信号输入端；两个所述控制信号端分别为第一控制信号端和第二控制信号端；每个所述信号输入端分别对应一个第一开关晶体管和一个第二开关晶体管；所述第一开关晶体管的栅极与所述第一控制信号端相连，源极与对应的所述信号输入端相连，漏极用于输出对应的所述信号输入端输入的信号；所述第二开关晶体管的栅极与所述第二控制信号端相连，源极与对应的所述信号输入端相连，漏极用于输出对应的所述信号输入端输入的信号；每个所述扫描信号输入端对应两个所述第一控制开关，每个所述发光信号输入端对应一个所述第二控制开关；各所述第一控制开关的控制端与所述第一控制信号端相连，输入端与对应的所述扫描信号输入端相连；各所述第一控制开关用于在所述第一控制信号端的控制下，将对应的所述扫描信号输入端输入的信号通过输出端输出；各所述第二控制开关的控制端与所述第一控制信号端相连，输入端与对应的所述发光信号输入端相连；各所述第二控制开关用于在所述第一控制信号端的控制下，将对应的所述发光信号输入端输入的信号通过输出端输出；各所述第三控制开关的控制端与所述第二控制信号端相连，输入端与所述第一信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连；各所述第三控制开关用于在所述第二控制信号端的控制下，将对应的所述第一信号输入端输入的信号通过输出端输出；各所述第四控制开关的控制端与所述第二控制信号端相连，输入端与所述第二信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连；各所述第四控制开关用于在所述第二控制信号端的控制下，将对应的所述第二信号输入端输入的信号通过输出端输出；各所述第五控制开关的控制端与所述第二控制信号端相连，输入端与所述第三信号输入端对应的第二开关晶体管的漏极相连；各所述第五控制开关用于在所述第二控制信号端的控制下，将对应的所述第三信号输入端输入的信号通过输出端输出。