[发明专利]一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光的系统在审
| 申请号： | 201610019745.1 | 申请日： | 2016-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN105510282A | 公开（公告）日： | 2016-04-20 |
| 发明（设计）人： | 吕蒙;俞国林;林铁;褚君浩 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 郭英 |
| 地址： | 200083 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光光谱的系统，测量系统主要由光纤激光器、光纤组件、光纤、真空密封接头、O型圈、螺母、待测样品、磁输运样品室、光谱仪和测试分析计算机等组成。该测量系统的主要特征在于利用光纤组件在深低温、强磁场环境中对样品进行光致发光测试，实现了光致发光测试与深低温、强磁场输运测量的结合。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测量 低温 磁场 样品 光致发光 系统 | ||
【主权项】：
一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光光谱的系统，包括：光纤激光器(101)、光纤组件A(102)、光纤I(103)、真空密封接头(104)、O型圈(105)、螺母(106)、待测样品(107)、光纤II(108)、磁输运样品室(109)、光纤组件B(110)、光谱仪(111)和测试分析计算机(112)，其特征在于：所述的光纤组件A(102)两端通过光纤接头分别与光纤激光器(101)和光纤I(103)连接；所述的光纤I(103)左端通过光纤接头与光纤组件A(102)连接，右端穿过真空密封接头(104)进入磁输运样品室(109)后对准待测样品(107)；所述的光纤II(108)左端通过光纤接头与光纤组件B(110)连接，右端穿过真空密封接头(104)进入磁输运样品室(109)后对准待测样品(107)；真空密封接头(104)为圆形，内有剥去外皮仅留中心石英部分的光纤I(103)和光纤II(108)穿过，当中采用密封胶固定和密封；真空密封接头(104)穿过磁输运样品室(109)，一部分位于磁输运样品室(109)外并有沟槽，O型圈(105)套进真空密封接头(104)内并处于真空密封接头(104)沟槽里，O型圈(105)露出沟槽的部分贴于磁输运样品室(109)外壁，真空密封接头(104)处于磁输运样品室(109)之内的部分上有螺纹，螺丝(106)拧进螺纹并贴紧磁输运样品室(109)外壁，起固定和真空密封作用；待测样品(107)平放于磁输运样品室(109)底端超导线圈内；调整待测样品(107)位置以及光纤I(103)、光纤II(108)下端对准待测样品(107)的角度，使得光纤I(103)发出的激光入射到待测样品(107)上，所激发的光致发光被光纤II(108)所接收；光纤组件B(110)两端通过光纤接头分别与光谱仪(111)和光纤II(108)连接；光谱仪(111)连接到测试分析计算机(112)，从而记录、分析得到的光谱信息。
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