[发明专利]应用功耗测量方法及装置在审
| 申请号： | 201610021875.9 | 申请日： | 2016-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN105653459A | 公开（公告）日： | 2016-06-08 |
| 发明（设计）人： | 付长春;杜广源;娄宏骏 | 申请（专利权）人： | 中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司;北京中油瑞飞信息技术有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人： | 周静 |
| 地址： | 072751 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种应用功耗测量方法及装置，属于计算机技术领域。所述方法包括：获取目标应用运行时的至少两个初始功耗参数集合；根据至少两个初始功耗参数集合，确定目标功耗参数集合，目标功耗参数集合为至少两个初始功耗参数集合的均值；根据目标功耗参数集合，建立三维查找表LUT；获取目标应用运行时的一组目标变量参数；在三维LUT中查找一组目标变量参数对应的目标动态功耗；根据目标动态功耗确定目标应用的整体功耗。本发明解决了应用功耗测量的准确性较差的问题，提高了应用功耗测量的准确性，本发明用于应用的功耗测量。 | ||
| 搜索关键词： | 应用 功耗 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
一种应用功耗测量方法，其特征在于，所述方法包括：获取目标应用运行时的至少两个初始功耗参数集合，每个初始功耗参数集合包括至少一个功耗参数子集，每个功耗参数子集包括：一组变量参数以及所述一组变量参数对应的动态功耗，所述一组变量参数包括：中央处理器CPU利用率、最末级缓存LLC缺失率和磁盘访问率，每个初始功耗参数集合包括：所述目标应用运行过程中，不同的CPU利用率、不同的LLC缺失率以及不同的磁盘访问率；根据所述至少两个初始功耗参数集合，确定目标功耗参数集合，所述目标功耗参数集合为所述至少两个初始功耗参数集合的均值；根据所述目标功耗参数集合，建立三维查找表LUT，所述三维LUT用于记录所述目标应用运行时，每组变量参数与动态功耗的对应关系；获取所述目标应用运行时的一组目标变量参数；在所述三维LUT中查找所述一组目标变量参数对应的目标动态功耗；根据所述目标动态功耗确定所述目标应用的整体功耗。
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