[发明专利]一种基于波前畸变与光轴抖动测量信息的图像质量提升方法在审

专利信息
申请号: 201610022117.9 申请日: 2016-01-13
公开(公告)号: CN105590300A 公开(公告)日: 2016-05-18
发明(设计)人: 王虎妹;金挺;王世涛;潘忠石;孙晓峰;宋鹏飞 申请(专利权)人: 中国空间技术研究院
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 代理人: 胡剑辉
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于波前畸变与光轴抖动测量信息的图像质量提升方法,所述方法包括:步骤一、获取光学系统的波前畸变信息和光轴抖动测量信息;步骤二、利用波前畸变测量数据,计算波前畸变点扩散函数PSF1;步骤三、根据曝光时间内测量的光轴抖动信息计算点扩散函数PSF2;步骤四、综合波前畸变点扩散函数PSF1和光轴抖动点扩散函数PSF2获取成像系统的总退化PSF;步骤五、根据所述总退化PSF,进行非盲图像复原处理。采用上述技术方案利用一体化测量信息,通过融合的方式获得波前畸变和光轴抖动两种影响因素叠加影响的综合图像退化模型,提高退化点扩散函数的计算精度,采用非盲图像复原算法,获得高质量的图像质量提升效果。
搜索关键词: 一种 基于 畸变 光轴 抖动 测量 信息 图像 质量 提升 方法
【主权项】:
一种基于波前畸变与光轴抖动测量信息的图像质量提升方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:步骤一、一体化获取光学系统的波前畸变信息和光轴抖动测量信息;所述波前畸变信息为{a1,…,ak},其中ak为Zernike多项式系数;波前表示为zk(x,y)为Zernike多项式第k项基元波面,x,y为瞳面坐标;光轴抖动测量信息为{(jx1,jy1),…,(jxi,jyi)},其中(jxi,jyi)表示曝光时间内第i个采样点光轴相对于曝光起始时刻的像面偏移量;步骤二、利用波前畸变测量数据,计算波前畸变点扩散函数PSF1;其中,首先对应不同的相位差分布,计算得到不同的单色点扩散函数PSFλ(u,v);其中,A(x,y)为瞳面光波振幅,根据光瞳形状确定,有效通光位置取值为1,其余取0;f为焦距,λ为单色光波长,(u,v)为像面坐标,(x,y)为瞳面坐标;然后,对单色点扩散函数进行加权平均,即为白光点扩散函数PSF1;<mrow><mi>P</mi><mi>S</mi><mi>F</mi><mn>1</mn><mrow><mo>(</mo><mi>u</mi><mo>,</mo><mi>v</mi><mo>)</mo></mrow><mo>=</mo><mfrac><mrow><mo>&Integral;</mo><msub><mi>PSF</mi><mi>&lambda;</mi></msub><mrow><mo>(</mo><mi>u</mi><mo>,</mo><mi>v</mi><mo>)</mo></mrow><msub><mi>&omega;</mi><mi>&lambda;</mi></msub><mi>d</mi><mi>&lambda;</mi></mrow><mrow><mo>&Integral;</mo><msub><mi>&omega;</mi><mi>&lambda;</mi></msub><mi>d</mi><mi>&lambda;</mi></mrow></mfrac></mrow>其中,ωλ为太阳光谱分布、目标光谱反射率、光电探测器光谱响应的乘积;步骤三、根据曝光时间内测量的光轴抖动信息计算点扩散函数PSF2;其中,N表示曝光时间内采样点的总数,n(u,v)表示落入像面(u,v)位置的采样点数;根据曝光时间内测量的光轴抖动信息计算点扩散函数PSF2;其中,N表示曝光时间内采样点的总数,n(u,v)表示落入像面(u,v)位置的采样点数;(u,v)根据测量的光轴抖动信息进行计算,u=ROUNDDOWN(jxi)、v=ROUNDDOWN(jyi),其中ROUNDDOWN()表示向下取整;步骤四、综合波前畸变点扩散函数PSF1和光轴抖动点扩散函数PSF2获取成像系统的总退化PSF;将步骤二和步骤三获取的基于波前测量数据的点扩散函数PSF1和基于光轴抖动测量数据的点扩散函数PSF2,二者卷积后获取成像系统的总退化PSF;步骤五、根据所述总退化PSF,进行非盲图像复原处理。
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