[发明专利]等离子体分光分析方法和等离子体分光分析装置有效
| 申请号： | 201610022123.4 | 申请日： | 2016-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN105784675B | 公开（公告）日： | 2020-01-07 |
| 发明（设计）人： | 白木裕章;冈井均 | 申请（专利权）人： | 爱科来株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/66 | 分类号： | G01N21/66 |
| 代理公司： | 11127 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 庞东成;褚瑶杨 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供简便且分析灵敏度高的等离子体分光分析方法和等离子体分光分析装置。本发明的等离子体分光分析方法的特征在于，包括下述工序：浓缩工序，在试样的存在下，通过向一对电极施加电压，在至少一个电极的附近将所述试样中的分析对象物进行浓缩；以及检测工序，通过对所述一对电极施加电压而产生等离子体，对在所述等离子体的作用下产生的所述分析对象物的发光进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 等离子体 分光 分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种等离子体分光分析方法，其特征在于，包括下述工序：/n浓缩工序，通过向浸渍在液体试样中的一对电极施加电压，在所述一对电极中与所述试样的液体接触面积小的电极的附近将所述试样中的分析对象物进行浓缩；以及/n检测工序，通过对所述一对电极施加电压而在与所述试样的液体接触面积小的电极上产生等离子体，对在所述等离子体的作用下产生的所述分析对象物的发光进行检测。/n
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