[发明专利]非均匀颗粒离散单元快速线性接触检测方法有效
| 申请号： | 201610025242.5 | 申请日： | 2016-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN105701349B | 公开（公告）日： | 2018-10-23 |
| 发明（设计）人： | 赵兰浩;芮开天;郭博文;李同春 | 申请（专利权）人： | 河海大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 柏尚春 |
| 地址： | 210000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种非均匀颗粒离散单元快速线性接触检测方法，基于NBS方法，根据颗粒尺寸大小对所有颗粒排序分组，然后分多步，分别将每一组的颗粒和其他颗粒进行接触检测。最终实现所有颗粒之间的接触检测；本方法的优点在于，改进了NBS方法，解决了原方法不能适用于非均匀颗粒体系的问题，在保证检测速度的同时，极大地提高了检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 均匀 颗粒 离散 单元 快速 线性 接触 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种非均匀颗粒离散单元快速线性接触检测方法，其特征在于：所述方法步骤如下：步骤1，根据颗粒的粒径将所有颗粒从大到小排序并分成n组，具体步骤如下：步骤A、设第1组中的颗粒的粒径为d1，则d1的范围为D≤d120，取n＝20，所述颗粒具体为岩土；步骤2，将第1组中的颗粒与第1到第n组中的颗粒进行接触检测；步骤3，将第1组颗粒从总体中去除，将第2组中的颗粒与第2到第n组中的颗粒进行接触检测；步骤4，将第1组和第2组颗粒从总体中去除，将第3组中的颗粒与第3到第n组中的颗粒进行接触检测；步骤5，依照步骤4类推，将已经进行过检测的颗粒组从总体中去除，进行下一组颗粒与剩余颗粒的检测，直至第n组颗粒与第n组中所有颗粒进行接触检测。
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