[发明专利]一种智能TEDS传感器通用测试系统及方法在审
申请号: | 201610029900.8 | 申请日: | 2016-01-18 |
公开(公告)号: | CN105424075A | 公开(公告)日: | 2016-03-23 |
发明(设计)人: | 翟少磊;张文斌;李博;朱梦梦;李天文;唐标;沈鑫;林聪 | 申请(专利权)人: | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 650217 云南省昆*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种智能TEDS传感器通用测试系统及方法,该智能TEDS传感器通用测试系统包括上位机、存储器、信号发生器、信号调理电路和数据采集电路,与现有技术相比,本发明提供的智能TEDS传感器通用测试系统,通过上位机读取智能TEDS传感器的TEDS数据,针对不同的传感器类型,信号发送器生成相应的激励信号,最终由该上位机完成对该智能TEDS传感器的性能测试,可以实现利用一套测试系统完成对不同智能TEDS传感器的性能测试,能够大大降低测试系统的配置时间及测试成本,并有效提高测试效率及用户体验。 | ||
搜索关键词: | 一种 智能 teds 传感器 通用 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种智能TEDS传感器通用测试系统,其特征在于,包括上位机、存储器、信号发生器、信号调理电路和数据采集电路,其中,所述信号发生器和所述数据采集电路通过控制接口与所述上位机电连接;所述存储器设置在所述上位机和所述数据采集电路之间,所述存储器与所述数据采集电路电连接,且所述存储器通过所述控制接口与所述上位机电连接;所述数据采集电路与所述信号调理电路电连接,且所述信号发生器与待测智能TEDS传感器的信号输入端电连接,所述信号调理电路与所述待测智能TEDS传感器的信号输出端电连接。
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