[发明专利]单波长实现多光子脉冲STED-SPIM显微系统有效
申请号: | 201610031072.1 | 申请日: | 2016-01-18 |
公开(公告)号: | CN105467572B | 公开(公告)日: | 2018-06-01 |
发明(设计)人: | 陈轩泽;席鹏 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | G02B21/00 | 分类号: | G02B21/00 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 关畅;刘美丽 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种单波长实现多光子脉冲STED‑SPIM显微系统,其特征在于,飞秒单波长激光器发出的飞秒脉冲激光经第一偏振态调节器件发送到第一分光器件分成两束光,第一束光沿Y轴方向依次发射到第二偏振态调节器件、第二分光器件、第三偏振态调节器件和四分之一波片成为激发光束;第二束光发送到STED光淬灭系统,经STED光淬灭系统出射的光依次入射到第二分光器件、第三偏振态调节器和四分之一波片调制为面包圈状光焦斑成为淬灭光束;扫描器件用于对激发光束和淬灭光束进行扫描产生激发片光源和STED淬灭片光源,激发片光源和STED淬灭片经激发物镜照射待成像物体使待成像物体的荧光染料激发荧光,激发的荧光经成像物镜成像并依次经滤光片和会聚透镜发射到感光元件或发射到分析元件。 | ||
搜索关键词: | 淬灭 偏振态调节器件 分光器件 片光源 四分之一波片 激发 待成像物体 光子脉冲 激发光束 显微系统 单波长 发射 单波长激光器 飞秒脉冲激光 偏振态调节器 成像物镜 分析元件 感光元件 会聚透镜 激发荧光 面包圈状 扫描器件 荧光染料 滤光片 出射 光焦 入射 物镜 荧光 调制 成像 照射 扫描 | ||
【主权项】:
1.一种单波长实现多光子脉冲STED-SPIM显微系统,其特征在于,包括一飞秒单波长激光器、两分光器件、一STED光淬灭系统、三偏振态调节器件、一四分之一波片、一扫描器件、一激发物镜、一成像物镜、一感光元件或一分析元件,所述激发物镜的三维方向定义为X、Y和Z轴,所述激发物镜的光轴方向为Y轴,垂直于所述激发物镜光轴方向分别为X和Y轴;所述飞秒单波长激光器发出的飞秒脉冲激光经第一偏振态调节器件发送到第一分光器件分成两束光,第一束光沿Y轴方向依次发射到第二偏振态调节器件、第二分光器件、第三偏振态调节器件和所述四分之一波片成为激发光束;第二束光发送到所述STED光淬灭系统,经所述STED光淬灭系统出射的光依次入射到所述第二分光器件、第三偏振态调节器和所述四分之一波片调制为面包圈状光焦斑成为淬灭光束;所述扫描器件用于对激发光束和淬灭光束进行扫描产生激发片光源和STED淬灭片光源,所述激发片光源和STED淬灭片光源经所述激发物镜照射待成像物体,激发片光源在所述激发物镜焦平面对待成像物体的荧光染料进行多光子激发,延时后的STED淬灭片光源对荧光光焦斑外围进行淬灭,产生受激辐射损耗压缩激发光斑的PSF,经荧光染料发射的荧光经所述成像物镜成像并依次经一滤光片和一会聚透镜发射到所述感光元件完成荧光染料三维成像或发射到所述分析元件完成荧光染料分析;所述扫描器件包括一位于Z轴的TAG透镜和一位于X轴的检流计,所述TAG透镜同时扫描激发光束和STED淬灭光束产生连续激发光线光源和STED淬灭线光源,所述检流计用于在X轴上同时扫描激发光线光源和STED淬灭线光源产生连续激发光片光源和STED淬灭片光源。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京大学,未经北京大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610031072.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种水位检测龙头
- 下一篇:一种晶硅棒晶硅锭切割用锯床承接台