[发明专利]一种用于纱线瑕疵检测的双光源检测方法在审
申请号: | 201610033875.0 | 申请日: | 2016-01-19 |
公开(公告)号: | CN105675618A | 公开(公告)日: | 2016-06-15 |
发明(设计)人: | 付明磊;沈敏烽;刘玉玲 | 申请(专利权)人: | 浙江工业大学义乌科学技术研究院有限公司 |
主分类号: | G01N21/89 | 分类号: | G01N21/89 |
代理公司: | 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 | 代理人: | 王利强 |
地址: | 322000 浙江省金*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 一种用于纱线瑕疵检测的双光源检测方法,实现该检测方法的检测系统包括第一光源检测单元和第二光源检测单元,第一光源和第二光源的光线颜色不同,第一光源检测单元和第二光源检测单元的检测光轴与待检测纱线的运动方向垂直,同时第一光源检测单元和第二光源检测单元检测光轴正交;双光源检测方法包括如下步骤:1)计算第一光源检测单元输出电压UR和第二光源检测单元输出电压UG,检测纱线设定的标准直径为d0,计算纱线检测中标准电压U0;2)计算纱线水平方向直径变化电压输出量△UR和纱线竖直方向直径变化电压输出量△UG;3)通过ΔUR和ΔUG判断瑕疵类别。本发明成本较低、系统简单、且能同时检测纱线粗细瑕疵和扁平瑕疵。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 纱线 瑕疵 检测 光源 方法 | ||
【主权项】:
一种用于纱线瑕疵检测的双光源检测方法,其特征在于:实现该检测方法的检测系统包括第一光源检测单元和第二光源检测单元,第一光源和第二光源的光线颜色不同,所述第一光源检测单元和第二光源检测单元的检测光轴与待检测纱线的运动方向垂直,同时第一光源检测单元和第二光源检测单元检测光轴正交;所述双光源检测方法包括如下步骤:1).计算第一光源检测单元输出电压UR和第二光源检测单元输出电压UG,所述第一光源检测单元输出电压UR按照公式(1)计算,UR=hE0‑Kd1 (1)所述第二光源检测单元输出电压UG按照公式(2)计算,UG=hE0‑Kd2 (2)其中,d1,d2分别为纱线水平方向和竖直方向的直径,E0为无纱线时光电转换电路吸收的光强总量,所述K=λhE0/y,所述λ为遮挡的光强占被遮挡面积内光强总量比例系数,h为光电转换系数检测纱线设定的标准直径为d0,纱线检测中标准电压U0按照公式(3)计算,U0=hE0‑Kd0 (3);2).计算纱线水平方向直径变化电压输出量△UR和纱线竖直方向直径变化电压输出量△UG,所述纱线水平方向直径变化输出量△UR按照公式(4)计算,ΔUR=UR‑U0=‑K(d1‑d0)=‑KΔd (4)所述纱线竖直方向直径变化电压输出量△UG按照公式(5)计算,ΔUG=UG‑U0=‑K(d2‑d0)=‑KΔd (5)3).通过ΔUR和ΔUG判断瑕疵类别。
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