[发明专利]一种密封测试系统及密封测试方法

摘要

本发明公开了一种密封测试系统,包括密闭容器、抽真空装置、检测装置、PLC控制器，所述密闭容器具有一检测腔室和标准腔室，所述检测腔室通过第一真空隔断阀与所述标准腔室连通，所述抽真空装置通过第二真空隔断阀与所述检测腔室连通，所述检测装置设置在所述密闭容器内，用于检测所述密闭容器内真空值，所述抽真空装置、所述检测装置的信号端与所述PLC控制器电连接。与现有技术相比，本发明所提供的密封测试系统结构简单，操作简便，测试速度快、测试精准度高，能精准的得出泄漏值。另，本发明还公开一种利用所述的密封测试系统测试产品的密封程度的密封测试方法。

主权项

1.一种密封测试方法，其应用一密封测试系统测试产品的密封程度，该密封测试系统包括密闭容器、抽真空装置、检测装置、PLC控制器，所述密闭容器具有一检测腔室和标准腔室，所述检测腔室通过第一真空隔断阀与所述标准腔室连通，所述抽真空装置通过第二真空隔断阀与所述检测腔室连通，所述检测装置设置在所述密闭容器内，所述检测装置包括微差压传感器、真空薄膜规，所述微差压传感器具有正、负端，所述微差压传感器负端、所述真空薄膜规设置在所述标准腔室内，所述微差压传感器正端设置在所述检测腔室内，微差压传感器、真空薄膜规信号输出端均与所述PLC控制器电连接；其特征在于，所述密封测试方法包括以下步骤：S1、将待检测药品放置在检测腔室内，关闭检测腔室门，打开所述第一真空隔断阀、第二真空隔断阀，抽真空装置对密闭容器进行抽真空；S2、待密闭容器内真空值达到预设值后，依次关闭第二真空隔断阀、第一真空隔断阀；其中，所述真空薄膜规检测所述标准腔室内的初始真空值为P2，经过T时间后，所述真空薄膜规检测并记录T时间所述标准腔室内的标准真空值为P1，所述P1与P2之间的差压值ΔP1则为标准真空的泄漏值；所述微差压传感器检测所述检测腔室内的初始真空值为P4，经过T时间后，所述微差压传感器检测并记录T时间时所述检测腔室内的真空值为P3，所述P3与P4之间的差压值ΔP2则为检测腔室的泄漏值；所述检测腔室的泄漏值ΔP2与所述标准真空的泄漏值ΔP1的差值ΔP为检测药品的泄漏值。