[发明专利]基于等离子体约束腔的微量重金属检测的LIBS系统有效
申请号: | 201610045515.2 | 申请日: | 2016-01-22 |
公开(公告)号: | CN105699338B | 公开(公告)日: | 2019-02-05 |
发明(设计)人: | 马晓红;宋阳;王锐;赵华凤;张敏;廖延彪 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01N21/63 | 分类号: | G01N21/63;G01N21/01 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 李相雨 |
地址: | 100084 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于等离子体约束腔的微量重金属检测的LIBS系统,包括样品台、激光器,等离子体约束腔、光谱仪以及数据处理器。所述样品台用于固定微量重金属的待测样品;所述激光器用于根据所述待测样品的预设检测点的位置产生激光;所述等离子体约束腔用于与所述样品台的表面构成一腔室,以将所述待测样品的预设检测点罩设于所述腔室中,并使所述待测样品经过所述激光照射后产生的等离子体辐射光从狭缝中透出。本发明通过在所述样品台的表面上设置等离子体约束腔,对等离子体辐射光起到了增强作用,提高了辐射光收集效率,进而提高了系统检测的准确性、稳定性和实用性,使LIBS技术得到了进一步的发展和应用。 | ||
搜索关键词: | 基于 等离子体 约束 微量 重金属 检测 libs 系统 | ||
【主权项】:
1.一种基于等离子体约束腔的微量重金属检测的LIBS系统,其特征在于,包括:样品台,用于固定微量重金属的待测样品,所述样品台包括样品架、平移台及样品座;所述样品架固定于所述平移台上;所述样品架的、沿激光入射的侧面上开设有矩形的通孔,所述通孔内部用于容纳所述待测样品;所述样品架的、与光谱仪相对的侧面上开设有透射孔;所述等离子体约束腔进一步用于覆盖住所述透射孔,并将所述待测样品的预设检测点罩设于所述等离子体约束腔与所述样品架的表面构成的腔室中,以使所述等离子体辐射光从狭缝中透出;所述平移台固定于所述样品座上,所述平移台用于使所述样品架在第一预设平面内进行平移,所述第一预设平面为与所述通孔的矩形开口所在平面平行的平面;所述样品座通过连接部件固定于底座上;所述样品座用于通过所述平移台使所述样品架在第二预设平面内进行平移,所述第二预设平面为与所述底座所在平面平行的平面;激光器,用于根据所述待测样品的预设检测点的位置产生检测所述待测样品中所含微量重金属含量的激光;等离子体约束腔,用于与所述样品台的表面构成一腔室,以将所述待测样品的预设检测点罩设于所述腔室中,并使所述待测样品经过所述激光照射后产生的等离子体辐射光从狭缝中透出,所述狭缝开设于所述等离子体约束腔的腔体上,所述等离子体约束腔的腔室内部结构为半球体结构或圆柱体结构;光谱仪,用于根据所述等离子体辐射光获取所述待测样品的光谱数据;数据处理器,用于根据所述光谱数据确定所述待测样品的重金属含量。
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